據麥姆斯咨詢報道，Tokyo Tech（日本東京工業(yè)大學）的研究人員基于化學“可調”碳納米管材料開發(fā)出了一種柔性太赫茲成像儀。其研究發(fā)現(xiàn)大大拓展了太赫茲應用，包括環(huán)繞式、可穿戴技術，以及大面積光子學器件等。

　　基于碳納米管的柔性太赫茲成像儀誕生

　　圖1：（a）基于碳納米管（CNT）的柔性太赫茲成像儀；（b）環(huán)繞在指尖上的CNT太赫茲成像儀，可以方便地環(huán)繞在各種曲面上，僅需通過插入并旋轉指尖上的柔性太赫茲成像儀，就能清晰地探測管子上的破損。

　　碳納米管（CNT）應用正席卷電子產品世界，現(xiàn)在，它們在太赫茲技術領域的應用實現(xiàn)了跨越。

　　憑借其優(yōu)異的導電性和的物理特性，CNT對于下一代電子器件來說吸引力。在太赫茲器件中的應用，便是其有前景的方向。太赫茲成像儀正成為傳統(tǒng)成像系統(tǒng)的安全和可行的替代方案，它適用于從機場安全、食品檢測和藝術品鑒定，到醫(yī)療和環(huán)境傳感技術等廣泛的應用。

　　對于能夠為廣泛工業(yè)應用提供實時成像的太赫茲探測器的需求，刺激了對低成本、柔性太赫茲成像系統(tǒng)的研究。東京工業(yè)大學未來跨學科科學研究實驗室的Yukio Kawano是該領域的世界ji專家。例如，2016年，他便宣布開發(fā)出了基于多維碳納米管的可穿戴太赫茲技術。

　　Kawano及其團隊一直在研究各種類型CNT材料的太赫茲檢測性能，因為還有足夠的空間來改進，以滿足工業(yè)級應用的需求。

　　現(xiàn)在，他們報道了柔性CNT薄膜太赫茲成像儀的新進展，能夠精細調整以發(fā)揮太赫茲探測器的大性能。

　　他們的研究成果發(fā)表于ACS的Applied Nano Materials（題為“Fermi-Level-Controlled Semiconducting-Separated Carbon Nanotube Films for Flexible Terahertz Imagers”），其新型太赫茲成像儀基于化學可調的半導體CNT薄膜。

　　研究人員通過利用一種被稱為離子液體柵極的技術，證明他們可以對厚度為30微米的碳納米管薄膜的太赫茲探測器性能的關鍵參素實現(xiàn)高度可控。如圖1所示，這種厚度對于確保太赫茲成像儀保持獨立的形狀和柔性非常重要。

　　“此外，”研究團隊補充說，“我們開發(fā)了基于可變濃度摻雜溶液的無柵極費米能級調諧，并制造了費米能級調諧的p-n結CNT 太赫茲成像儀。”研究人員利用這種新型成像儀在實驗中成功實現(xiàn)了標準信封中回形針的可視化，如圖2。

　　圖2：研究團隊開發(fā)的CNT太赫茲成像儀，實現(xiàn)了信封中回形針的清晰、非接觸、非破壞性可視化。

　　這款新型THz成像儀的可彎曲性和進一步微調的可能性，將大大擴展在不遠的將來對基于CNT太赫茲器件進一步開發(fā)的可能性。

　　此外，噴墨涂層等低成本制造方法，可使大面積太赫茲成像器件更容易制得。